lunes, 14 de marzo de 2011

Curso de "Sistemas de medida y adquisición de datos. Labview"

A partir de hoy día 14 de Marzo y hasta el próximo día 14 de abril se imparte el curso "Sistemas de medida y adquisición de datos. Labview"

Será impartido por Jonatan Pariente y tiene una duración de 60 horas y sus objetivos son:
  • Analizar los componentes que forman un sistema global de captación de datos: Sensores, tarjetas de adquisición de datos, soporte para la visualización y el control.
  • Montar, cablear y calibrar sensores con la instrumentación necesaria para la captura de datos. Seleccionar los componentes precisos y aplicar los procedimientos de cálculo necesarios en el diseño de aplicaciones electrónicas.
  • Aprender el manejo del entorno de LabVIEW para la captura de datos y programación, monitorización y control de procesos industriales.
  • Prácticas de medida de volumen o nivel con sensores de ultrasonido, medida de temperaturas y ataque a actuadores."

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